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功能材料測(cè)試儀器

傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀高溫介電溫譜測(cè)試儀熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻

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型號(hào)：AMR-UD

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導(dǎo)通電阻評(píng)估系統(tǒng) 可靠性電路測(cè)試系統(tǒng)在低溫、高溫的溫度循環(huán)環(huán)境下，采用4端子測(cè)試法對(duì)焊點(diǎn)、連接器接點(diǎn)等導(dǎo)體進(jìn)行多通道微小電阻連續(xù)測(cè)量，以評(píng)估電子裝配與材料的正確性和可靠性。操作軟件可實(shí)時(shí)自動(dòng)測(cè)量記錄數(shù)據(jù)，圖表化微小電阻變化及試驗(yàn)箱溫度變化，可通過(guò)LAN進(jìn)行數(shù)據(jù)處理
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絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/PCB測(cè)試

更新時(shí)間：2023-08-29

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面對(duì)電子產(chǎn)品越來(lái)越小型輕量及絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/PCB測(cè)試配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可連續(xù)監(jiān)測(cè)，簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。
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介電溫譜試驗(yàn)儀可測(cè)薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具

更新時(shí)間：2024-12-08

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介電溫譜試驗(yàn)儀可測(cè)薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具，主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測(cè)試軟件于一體，可測(cè)試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖，機(jī)電耦合系數(shù)等，同時(shí)可分析被測(cè)樣品隨溫度，頻率，時(shí)間變化的曲線，測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。
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HPZT-200靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x/測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-08-07

型號(hào)：HPZT-200

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靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x/測(cè)試儀器為激振器提供穩(wěn)定頻率。采用激振器，以實(shí)現(xiàn)振動(dòng)頻率。電荷采用采用高阻放電荷放大器。以保證測(cè)試數(shù)據(jù)的精度。
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水平垂直燃燒測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-08-29

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水平垂直燃燒測(cè)試儀本試驗(yàn)設(shè)備符合 ANSI/UL94、IEC60950-1 標(biāo)準(zhǔn)的要求。用于對(duì)電器設(shè)備和器具的塑料材料部件進(jìn)行水平、垂直可燃性試驗(yàn)。產(chǎn)品箱體外殼為鋼材結(jié)構(gòu)，并配置了透明觀察窗，數(shù)顯計(jì)時(shí)器記錄施焰、余焰、余灼時(shí)間，裝置外形美觀，使用方便，可靠。
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華測(cè)熱重分析儀/力學(xué)原位加載

更新時(shí)間：2023-08-21

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華測(cè)熱重分析儀/力學(xué)原位加載（Thermal Gravimetric Analyzer）是一種利用熱重法檢測(cè)物質(zhì)溫度-質(zhì)量變化關(guān)系的儀器。熱重法是在程序控溫下，測(cè)量物質(zhì)的質(zhì)量隨溫度（或時(shí)間）的變化關(guān)系。當(dāng)被測(cè)物質(zhì)在加熱過(guò)程中有升華、汽化、分解出氣體或失去結(jié)晶水時(shí)，被測(cè)的物質(zhì)質(zhì)量就會(huì)發(fā)生變化。這時(shí)熱重曲線就不是直線而是有所下降。
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華測(cè)-高溫快速爐測(cè)試儀器

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華測(cè)-高溫快速爐測(cè)試儀器-高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對(duì)爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象
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高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線

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高低溫介電溫譜儀/頻率譜溫度譜介電譜曲線，公司開(kāi)發(fā)的高低溫阻抗、介電測(cè)量系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試平臺(tái)，高溫測(cè)試夾具與WK6500系列、Agilent（Keysight）4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR測(cè)量設(shè)備無(wú)縫連接，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數(shù)的測(cè)量與分析。
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